Ohyu, J.: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (50)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

Differentiating between Central Nervous System Lymphoma and High-grade Glioma Using Dynamic Susceptibility Contrast and Dynamic Contrast-enhanced MR Imaging with Histogram Analysis

Murayama, Kazuhiro, Nishiyama, Yuya, Hirose, Yuichi, Abe, Masato, Ohyu, Shigeharu, Ninomiya, Ayako, Fukuba, Takashi, Katada, Kazuhiro, Toyama, Hiroshi

Журнал:

Magnetic Resonance in Medical Sciences

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.72 MB

english, 2018

Feasibility of high-energy boron implantation for p-type retrograde well formation

K. Ohyu, T. Suzuki, T. Yamanaka, N. Natsuaki

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 440 KB

english, 1989

A mechanism and a reduction technique for large reverse leakage current in p-n junctions

Ohyu, K., Ohkura, M., Hiraiwa, A., Watanabe, K.

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 811 KB

english, 1995

Advantages of Fluorine Introduction in Boron Implanted Shallow p+/n-Junction Formation

K. Ohyu, T. Itoga, N. Natsuaki

Рік:

1990

Файл:

PDF, 778 KB

1990

STRENUOUS EXERCISE ALTERS THE QUALITY OF SERUM HIGH DENSITY LIPOPROTEIN

Takanami, Y., Iwane, H., Shimomitsu, T., Kutsumura, T., Ohyu, Y., Fujinami, J.

Журнал:

Medicine & Science in Sports & Exercise

Рік:

1992

Файл:

PDF, 128 KB

1992

Improving hot-electron hardness of narrow channel MOSFETs by fluorine implantation

Yasushiro Nishioka, Toshihiko Itoga, Kiyonori Ohyu, Tso-Ping Ma

Журнал:

Solid-State Electronics

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 315 KB

english, 1991

MeV-ion-induced damage in Si and its annealing

M. Tamura, T. Ando, K. Ohyu

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.93 MB

english, 1991

Increasing CNS norepinephrine levels by the precursor l-DOPS facilitate beam-walking recovery after sensorimotor cortex ablation in rats

Kenji Kikuchi, Katsuhiro Nishino, Hiroshi Ohyu

Журнал:

Brain Research

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 346 KB

english, 2000

Increasing CNS norepinephrine levels by the precursor l-DOPS facilitate beam-walking recovery after sensorimotor cortex ablation in rats

Kenji Kikuchi, Katsuhiro Nishino, Hiroshi Ohyu

Журнал:

Brain Research

Рік:

2000

Файл:

PDF, 24 KB

2000

Developmental characteristics of neuronal nitric oxide synthase (nNOS) immunoreactive neurons in fetal to adolescent human brains

Junkou Ohyu, Sachio Takashima

Журнал:

Developmental Brain Research

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.67 MB

english, 1998

Advanced process device technology for 0.3-μm high-performance bipolar LSIs

Tamaki, Y., Shiba, T., Kure, T., Ohyu, K., Nakamura, T.

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

1992

Мова:

english

Файл:

PDF, 521 KB

english, 1992

Use of the ventricular propagated excitation model in the magnetocardiographic inverse problem for reconstruction of electrophysiological properties

Ohyu, S., Okamoto, Y., Kuriki, S.

Журнал:

IEEE Transactions on Biomedical Engineering

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 522 KB

english, 2002

Direct observation of worst-bit leakage currents of DRAM

Mori, Y., Kamohara, S., Moniwa, M., Ohyu, K., Yamanaka, T., Yamada, R.

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 160 KB

english, 2006

Different effects between 7-nitroindazole and l-NAME on cerebral hemodynamics and hippocampal lesions during kainic acid-induced seizures in newborn rabbits

Yukito Takei, Sachio Takashima, Junkou Ohyu, Keiko Matsuura, Naoki Katoh, Takeshi Takami, Tasuku Miyajima, Akinori Hoshika

Журнал:

Brain and Development

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.01 MB

english, 2001

Immunohistochemical study of microtubule-associated protein 5 (MAP5) expression in the developing human brain

Junkou Ohyu, Hideo Yamanouchi, Sachio Takashima

Журнал:

Brain and Development

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 655 KB

english, 1997

Decreased expression of microtubule-associated protein 5 (MAP5) in the molecular layer of cerebellum in preterm infants with olivocerebellar lesions

Junkou Ohyu, Sachio Takashima

Журнал:

Brain and Development

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 398 KB

english, 1998

Early axonal and glial pathology in fetal sheep brains with leukomalacia induced by repeated umbilical cord occlusion

Junkou Ohyu, Genzo Marumo, Hiroshi Ozawa, Sachio Takashima, Kazuyuki Nakajima, Shinichi Kohsaka, Yoko Hamai, Yoshiya Machida, Kouichi Kobayashi, Eiji Ryo, Kazunori Baba, Shiro Kozuma, Takashi Okai, Yu

Журнал:

Brain and Development

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 257 KB

english, 1999

Effects of nitric oxide synthase inhibition on the cerebral circulation and brain damage during kainic acid-induced seizures in newborn rabbits

Yukito Takei, Sachio Takashima, Junkou Ohyu, Takeshi Takami, Tasuku Miyajima, Akinori Hoshika

Журнал:

Brain and Development

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 384 KB

english, 1999

Changes in AMPA glutamate and dopamine D2 receptors in hypoxic-ischemic basal ganglia necrosis

Shu Zhen Meng, Junkou Ohyu, Sachio Takashima

Журнал:

Pediatric Neurology

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 808 KB

english, 1997

Dopamine transporter and nitric oxide synthase in hypoxic-ischemic brain

Shu Zhen Meng, Junkou Ohyu, Masayuki Itoh, Sachio Takashima

Журнал:

Pediatric Neurology

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 363 KB

english, 2000

Channel length and width dependence of hot-carrier hardness in fluorinated MOSFETs

Nishioka, Y., Ohyu, K., Ohji, Y., Ma, T.-P.

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 317 KB

english, 1989

Radiation effects on fluorinated field oxides and associated devices

Nishioka, Y., Itoga, T., Ohyu, K., Kato, M., Ma, T.-P.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 597 KB

english, 1990

[IEEE 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. - Phoenix, AZ, USA (25-29 April 2004)] 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings - A new experimental method for evaluating electric field at the junctions of DRAM cell transistors and the effect of electric field strength on the retention characteristics of DRAM

Mori, Y., Takeda, Y., Kimura, S., Ohyu, K., Uchiyama, H., Yamada, R.

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 495 KB

english, 2004

Thrombocytopaenia in juvenile dermatomyositis

Kobayashi, I., Kawamura, N., Okano, M., Sageshima, S., Nakayama, T., Ohyu, J., Kobayashi, K.

Журнал:

Scandinavian Journal of Rheumatology

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 130 KB

english, 2006

[IEEE International Technical Digest on Electron Devices - San Francisco, CA, USA (9-12 Dec. 1990)] International Technical Digest on Electron Devices - 0.1 mu m CMOS devices using low-impurity-channel transistors (LICT)

Aoki, M., Ishii, T., Yoshimura, T., Kiyota, Y., Iijima, S., Yamanaka, T., Kure, T., Ohyu, K., Nishida, T., Okazaki, S., Seki, K., Shimohigashi, K.

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 177 KB

english, 1990

[IEEE IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. - San Francisco, CA, USA (Dec. 13-15, 2004)] IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. - Lattice strain design in W/WN/Poly-Si gate DRAM for improving data retention time

Kensuke Okonogi, Kiyonori Ohyu

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 265 KB

english, 2004

[IEEE 2001 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 39th Annual - Orlando, FL, USA (30 April-3 May 2001)] 2001 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 39th Annual (Cat. No.00CH37167) - A new method for predicting distribution of DRAM retention time

Mori, Y., Yamada, R.-I., Kamohara, S., Moniwa, M., Ohyu, K., Yamanaka, O.

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 464 KB

english, 2001

Hot-electron damage-resistant Si-gate submicrometer MOSFETs with a fluorinated oxide

Nishioka, Y., Ohji, Y., Ohyu, K., Mukai, K., Ma, T.P.

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 156 KB

english, 1989

[IEEE International Electron Devices Meeting. Technical Digest - Washington, DC, USA (2-5 Dec. 2001)] International Electron Devices Meeting. Technical Digest (Cat. No.01CH37224) - Data retention time in DRAM with WSi/sub x//P/sup +/poly-Si gate NMOS cell transistors

Kujirai, H., Ohyu, K., Moniwa, M., Kato, H., Nakai, K., Iwai, H., Nanba, M., Ogishima, A.

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 395 KB

english, 2001

Hot-electron hardened Si-gate MOSFET utilizing F implantation

Nishioka, Y., Ohyu, K., Ohji, Y., Natuaki, N., Mukai, K., Ma, T.-P.

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 292 KB

english, 1989

[IEEE 2006 International Electron Devices Meeting - San Francisco, CA, USA (2006.12.11-2006.12.13)] 2006 International Electron Devices Meeting - Quantitative identification for the physical origin of variable retention time: A vacancy-oxygen complex defect model

Ohyu, K., Umeda, T., Okonogi, K., Tsukada, S., Hidaka, M., Fujieda, S., Mochizuki, Y.

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 463 KB

english, 2006

Radiation hardened micron and submicron MOSFETs containing fluorinated oxides

Nishioka, Y., Ohyu, K., Ohji, Y., Kato, M., da Silva, E.F., Ma, T.P.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 686 KB

english, 1989

[IEEE International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest - Washington, DC, USA (5-8 Dec. 1999)] International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318) - Statistical pn junction leakage model with trap level fluctuation for Tref (refresh time)-oriented DRAM design

Kamohara, S., Kubota, K., Moniwa, M., Ohyu, K., Ogishima, A.

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 258 KB

english, 1999

[IEEE Bipolar Circuits and Technology Meeting - Minneapolis, MN, USA (17-18 Sept. 1990)] Proceedings on Bipolar Circuits and Technology Meeting - Advanced device process technology for 0.3 mu m self-aligned bipolar LSIs

Tamaki, Y., Shiba, T., Ogiwara, I., Kure, T., Ohyu, K., Nakamura, T.

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 201 KB

english, 1990

Annealing of phosphorus-ion-implanted silicon using a CO2 laser

Miyao, M., Ohyu, K., Tokuyama, T.

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

1979

Мова:

english

Файл:

PDF, 479 KB

english, 1979

The effect of fluorine implantation on the interface radiation hardness of Si-gate metal-oxide-semiconductor transistors

Y. Nishioka, K. Ohyu, Y. Ohji, N. Natsuaki, K. Mukai, T. P. Ma

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 671 KB

english, 1989

Spatial dose uniformity monitor for electrically scanned ion beam

Natsuaki, N., Ohyu, K., Tokuyama, T.

Журнал:

Review of Scientific Instruments

Рік:

1978

Мова:

english

Файл:

PDF, 653 KB

english, 1978

[IEEE IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. - Tempe, Arizon, USA (Dec. 5, 2005)] IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. - The origin of variable retention time in DRAM

Mori, Y., Ohyu, K., Okonogi, K., Yamada, R.-i.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 857 KB

english, 2005

Single silicon vacancy-oxygen complex defect and variable retention time phenomenon in dynamic random access memories

Umeda, T., Okonogi, K., Ohyu, K., Tsukada, S., Hamada, K., Fujieda, S., Mochizuki, Y.

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 544 KB

english, 2006

The Observation of an Ultradian Rhythm of Heart Rate in Low Birth Weight Infants

Ohta, H., Cho, K., Matsumoto, Y., Matsuda, T., Ohyu, J., Fujimoto, S., Honma, K.

Журнал:

Biological Rhythm Research

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 244 KB

english, 1999

[IEEE 2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings - San Jose, CA, USA (2006.03.26-2006.03.30)] 2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings - Improvement of Data Retention Time Property by Reducing Vacancy-Type Defect in DRAM Cell Transistor

Okonogi, Kensuke, Ohyu, Kiyonori, Umeda, Takahide, Miyake, Hideharu, Fujieda, Shinji

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 168 KB

english, 2006

Design and performance of 0.1- mu m CMOS devices using low-impurity-channel transistors (LICT's)

Aoki, M., Ishii, T., Yoshimura, T., Kiyota, Y., Iijima, S., Yamanaka, T., Kure, T., Ohyu, K., Nishida, T., Okazaki, S., Seki, K., Shimohigashi, K.

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

1992

Мова:

english

Файл:

PDF, 278 KB

english, 1992

Highly Reliable Thin Silicon Dioxide Layers Grown on Heavily Phosphorus Doped Poly-Si by Rapid Thermal Oxidation

Ohyu, Kiyonori

Журнал:

Journal of The Electrochemical Society

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.22 MB

english, 1990

Improvement of SiO 2 /Si Interface Properties Utilising Fluorine Ion Implantation and Drive-in Diffusion

Ohyu, Kiyonori, Itoga, Toshihiko, Nishioka, Yasushiro, Natsuaki, Nobuyoshi

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

1989

Файл:

PDF, 648 KB

1989

Recrystallization of Silicon-on-Insulator Structures by Sinusoidally-Scanned Electron Beams

Ishiwara, Hiroshi, Ohyu, Kiyonori, Horita, Susumu, Furukawa, Seijiro

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

1985

Файл:

PDF, 1.60 MB

1985

L-DOPS-Accelerated Recovery of Locomotor Function in Rats Subjected to Sensorimotor Cortex Ablation Injury. Pharmacobehavioral Studies.

Kikuchi, Kenji, Nishino, Katsuhiro, Ohyu, Hiroshi

Журнал:

The Tohoku Journal of Experimental Medicine

Рік:

1999

Файл:

PDF, 826 KB

1999

Dynamic Contrast-enhanced Area-detector CT vs Dynamic Contrast-enhanced Perfusion MRI vs FDG-PET/CT: Comparison of Utility for Quantitative Therapeutic Outcome Prediction for NSCLC Patients Undergoing Chemoradiotherapy

Seki, Shinichiro, Fujisawa, Yasuko, Yui, Masao, Kishida, Yuji, Koyama, Hisanobu, Ohyu, Shigeharu, Sugihara, Naoki, Yoshikawa, Takeshi, Ohno, Yoshiharu

Журнал:

Magnetic Resonance in Medical Sciences

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.37 MB

english, 2019

Generation of Periventricular Leukomalacia by Repeated Umbilical Cord Occlusion in Near-Term Fetal Sheep and Its Possible Pathogenetical Mechanisms

Marumo, G., Kozuma, S., Ohyu, J., Hamai, Y., Machida, Y., Kobayashi, K., Ryo, E., Unno, N., Fujii, T., Baba, K., Okai, T., Takashima, S., Taketani, Y.

Журнал:

Biology of the Neonate

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 272 KB

english, 2001

Assessment of Language Lateralization using functional Near-Infrared Spectroscopy in Bedside

Kato, Toshinori, Ohyu, Junkou, Fukumizu, Michiro, Takashima, Sachio

Журнал:

NeuroImage

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 224 KB

english, 1998

[AIP AIP Conference Proceedings Vol. 50 - ()] AIP Conference Proceedings - Annealing behavior of phosphorus implanted silicon irradiated by several lasers of different wavelength

Miyao, M., Tamura, H., Ohyu, K., Tokuyama, T.

Рік:

1979

Файл:

PDF, 626 KB

1979